新品發(fā)布丨奧譜天成推出三維熒光分光光度計ATF4500：性能革新，熒光檢測新方向

2025年9月26日，奧譜天成成功舉辦ATF4500三維熒光分光光度計線上新品發(fā)布會。本次發(fā)布會以“光譜新視界—生命·環(huán)境·未來 三維熒光的多維守護”為主題，技術團隊深入解讀了ATF4500的核心技術優(yōu)勢與性能突破，并結合生命科學、環(huán)境監(jiān)測、食品安全等領域的實際應用案例，展現(xiàn)了該設備在多行業(yè)檢測中的實用價值。

在熒光檢測領域，三維熒光光譜因能夠同時獲取激發(fā)與發(fā)射波長的完整信息，被譽為“光譜指紋”技術，具有檢測快速、信息豐富、適用范圍廣的顯著優(yōu)勢。奧譜天成全新推出的ATF4500三維熒光分光光度計，以創(chuàng)新光學設計和性能，實現(xiàn)更高靈敏度、更寬檢測范圍和更快掃描速度，為生命科學、環(huán)境監(jiān)測、食品安全等多領域的精密分析提供強大支持。

丨強大功能集于一身 科研的好助手

高效率、可靠性的光學系統(tǒng)

光源：性能的150W大功率氙燈

光柵：高級定制光柵，實現(xiàn)更高的分辨率0.8 nm

水平光束設計：水平的狹縫方向，樣品量低至0.6 mL

自動快門控制功能

自動快門：快門控制功能在沒有測試進行時可以保持，快門關閉，避免樣品被激發(fā)光照射而變質

時間掃描測試：脈沖激發(fā)光和熒光同步檢測，可進行樣品的高靈敏度測試

(時間掃描時有無快門控制下衰減情況比較)

高性能PMT探測器

光譜范圍：200-900 nm，提升27%

PMT增益可調：電壓提高50%，靈敏度提高60%

保護系統(tǒng)：雙重自動保護

多級狹縫

狹縫多檔可選：光譜帶寬可以從1nm-20nm進行5級切換，多級狹縫可以兼顧高分辨和寬范圍測試

 豐富的熒光附件

軟件功能

丨應用廣泛 賦能多行業(yè)檢測

丨實測表現(xiàn)亮眼

茶葉

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